Dr. Daniel Vega

Caracterización de Estado Sólido. Difracción de Rayos X

DATOS DEL AUTOR

Daniel Roberto Vega, Doctor en Ciencias Físicas de la UBA (1995), Licenciado en Ciencias Físicas de la UBA (1987). Profesor de la Escuela de Ciencia y Tecnología de la Universidad Nacional de San Martín desde 1996. Trabaja en el Laboratorio de Rayos-X, Departamento de Física de la Materia Condensada, Gerencia de Investigación y Desarrollo, Centro Atómico Constituyentes de la Comisión Nacional de Energía Atómica. Especialista en Polimorfismo, utilizando técnicas calorimétricas, microscópicas, espectroscópicas y particularmente difracción de rayos X.. Realiza tareas de asesoramiento y servicio a empresas del área farmacológica sobre el tema Estudios de Polimorfismo en IFAs (Ingredientes Activos Farmacéuticos), siendo responsable técnico para ensayos por Difracción de Rayos X en los contratos firmados entre CNEA y dichas empresas. Ha publicado 95 trabajos en revistas internacionales con referato, más de 30 presentaciones a Congresos Internacionales y 80 a Congresos Nacionales.

 

RESUMEN DE DISERTACIÓN

La difracción de rayos X es una de las técnicas analíticas más adecuadas para caracterizar estado sólido. Su uso en la caracterización de Ingredientes Activos Farmacológicos (IFAs) está ampliamente extendido, encontrándose actualmente dentro de varias farmacopeas.

Durante la exposición se presentará una introducción al estado sólido, y en particular al estado cristalino y amorfo de la materia, mostrando las ideas elementales e intuitivas de celda unitaria y posiciones atómicas, que conforman los conocimientos básicos de la estructura cristalina y que permitirán definir los planos cristalinos. Se expondrán los principios elementales del análisis por difracción de Rayos X por polvos, en particular la Ley de Bragg y su directa relación con los planos cristalinos. Se analizará la información analítica contenida en la posición e intensidad de los picos de difracción. Se detallarán los cambios esperados en los resultados del análisis por difracción de rayos X (difractogramas) al modificar el estado cristalino. Por otra parte, también se comentará sobre diferentes ensayos que pueden ser abordados con esta técnica analítica. Se describirán los instrumentos de medición más difundidos, contrastando las diferencias entre los mismos. La exposición permitirá analizar USP 941 y detallar el uso de esta técnica analítica en la caracterización de estado sólido de IFAs. A lo largo de la charla se expondrán varios ejemplos de aplicación, en particular se detallará el uso de la difracción de rayos X para la detección y cuantificación de polimorfos. Se analizarán las definiciones de límites de cuantificación y de detección en estos análisis, mostrando algunos ejemplos.